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对使用新型测试技术和仪器的几点忠告
作者：:Peter Hulbert

随着半导体制造商向65纳米技术转移并展望更小节点，严峻的测试挑战也开始浮出水面。传统的直流测试方法已无法再为器件的性能和可靠性提供准确的模型。一些新的方法呼唤能够以更快速度完成测试的新型仪器和软件

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